采用非晶硅平板探测器接收射线完成射线照相，是一种数字化射线检测技术，可实现小焦点DR检测，也可实现锥束工业CT检测。

技术指标：

X射线机焦点尺寸0.4mm|1.0mm；

最大能量320KeV；

平板探测器像元尺寸200um，积分时间可调；

空间分辨率2.5 lp/mm；

密度分辨率1%。

支撑教学环节：工业射线DR成像检测实验、工业CT成像检测实验、毕业设计、创新创业。